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APLICACION DE LA VISION POR COMPUTADOR A LA CARACTERIZACION DE LAS PROPIEDADES ESTRUCTURALES SEMICONDUCTORAS

Departamento De Informática De Sistemas Y Computadores

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Año de inicio

2004

Organismo financiador

CONSELLERIA DE EMPRESA, UNIVERSITAT I CIENCIA

Tipo de proyecto

INV. COMPETITIVA PROYECTOS

Responsable científico

Cuesta Frau David