Aplicación de las técnicas de microscopía de fuerza atómica (ATM) y cryo-microscopía electrónica de barrido-microanálisis de rayos x (Cryo-SEM/EDX) a la evaluación de procesos de limpieza de barnices

Autores UPV
Año
CONGRESO Aplicación de las técnicas de microscopía de fuerza atómica (ATM) y cryo-microscopía electrónica de barrido-microanálisis de rayos x (Cryo-SEM/EDX) a la evaluación de procesos de limpieza de barnices