Resumen
A pesar de las saludables medidas preventivas adoptadas en todos los países, el fraude documental se sigue presentando en forma creciente y cada vez más tecnificado.
La prevención del fraude documental requiere de actuaciones en varios frentes, siendo una de ellas la protección de los documentos a través de diferentes medios de seguridad. El añadir sustancias (marcadores) a los documentos cuya respuesta se pueda autentificar en diferentes espectros de frecuencias (banda de Infrarrojos IR, Ultravioleta UV, resonancia magnética RMN, Raman, banda óptica, etc.) supone una herramienta de seguridad altamente sofisticada que se ha venido utilizando durante los últimos años. Ejemplos de características de seguridad encubiertos incluyen tintas de marcado especiales que se pueden imprimir en cualquier tipo de sustrato y aparece sólo en ciertas condiciones, tales como UV o IR; imágenes incrustadas, marcas de agua, la codificación láser, RFID (marcado la identidad de radiofrecuencia) y similares.
El microscopio por microondas escáner en campo próximo (Near-Field Scanning Microwave Microscope NSMM-) mide las interacciones electromagnéticas de una señal microondas procedente de una pequeña sonda puntiaguda con una material bajo test en una escala que es significativamente menor que la longitud de onda de la señal emitida. El interés en el microscopio por microondas NSMM ha estado desde sus orígenes históricamente ligado a su utilización como instrumento para determinar las propiedades de diferentes partes en el dopado de semiconductores. Sin embargo, la gran sensibilidad mostrada en la detección de materiales heterogéneos con diferentes propiedades dieléctricas, puede resultar en una gran diversidad de aplicaciones. En la siguiente propuesta se propone la utilización de un microscopio por microondas NSMM como sistema robusto para la detección, medida y autentificación de marcadores en una escala micrométrica en 2D para aplicaciones de seguridad documental. El objetivo es ir más allá en el estado actual de la técnica en metrología NSMM en escala micrométrica con la intención de desarrollar estos dispositivos para ser capaces de obtener medidas trazables de marcadores ocultos.
